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四探針方阻儀 方阻電阻率測(cè)試儀采用范德堡測(cè)量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差，提供通訊接口，PC軟件數(shù)據(jù)處理及數(shù)據(jù)分析.中文或英文語言版本.

LST-331四探針方阻電阻率測(cè)試儀采用范德堡測(cè)量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差，提供通訊接口，PC軟件數(shù)據(jù)處理及數(shù)據(jù)分析.中文或英文語言版本.硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及國標(biāo)設(shè)計(jì)制造；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》.

絕緣材料表面體積電阻率測(cè)試儀LST-121超高測(cè)量范圍，量程達(dá)到0-2×1018Ω，取代指針式高阻計(jì)的*佳儀表。 LST-122 絕緣材料體積電阻和表面電阻率測(cè)定儀高性能全功能超高阻、微電流綜合測(cè)量?jī)x表，除了覆蓋LST-121的全部功能與用途外，

LST系列高絕緣電阻率測(cè)試儀 絕緣材料體積電阻和表面電阻率測(cè)定儀高性能全功能超高阻、微電流綜合測(cè)量?jī)x表，除了覆蓋LST-121的全部功能與用途外，其他特點(diǎn)與用途見上述專題介紹。

電流測(cè)量范圍為2×10-4 ～1×10-16Ａ。機(jī)內(nèi)測(cè)試電壓10V/50V/100V/250V/500V/1000V任意可調(diào)。體積具有精度高、顯示迅速、性好穩(wěn)定、讀數(shù)方便. 體積表面體積電阻率測(cè)試儀適用于橡膠、塑料、薄膜、地毯、織物及粉體、液體、及固體和膏體形狀的各種絕緣材料體積和表面電阻值的測(cè)定。

絕緣電阻率測(cè)定儀符合國家標(biāo)準(zhǔn)GB1410－2006固體電工絕緣材料絕緣電阻、體積電阻系數(shù)和表面電阻試驗(yàn)方法，ASTM D257 絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法 等標(biāo)準(zhǔn)要求。本儀器配不同的測(cè)量電極（夾具）可以測(cè)量不同材料（固體、粉體或液體）的體積電阻率和表面電阻率或電導(dǎo)率。適用于橡膠、塑料、薄膜、及粉體、液體、及固體和膏體形狀的各種絕緣材料體積和表面電阻值的測(cè)定。

體積電阻率測(cè)試儀儀器使用前請(qǐng)仔細(xì)閱讀以下內(nèi)容，否則將造成儀器損壞或電擊情況。 1.檢查儀器后面板電壓量程是否置于10V檔，電流電阻量程是否置于104檔。 2.接通電源調(diào)零，（注意此時(shí)主機(jī)不得與屏蔽箱線路連接）在“Rx”兩端開路的情況下，調(diào)零使電流表的顯示為0000。

絕緣材料電阻率測(cè)試儀*符合國家標(biāo)準(zhǔn)GB1410－2006固體電工絕緣材料絕緣電阻、體積電阻系數(shù)和表面電阻試驗(yàn)方法，ASTM D257 絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法 等標(biāo)準(zhǔn)要求。本儀器配不同的測(cè)量電極（夾具）可以測(cè)量不同材料（固體、粉體或液體）的體積電阻率和表面電阻率或電導(dǎo)率。適用于橡膠、塑料、薄膜、及粉體、液體、及固體和膏體形狀的各種絕緣材料體積和表面電阻值的測(cè)定。